| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| scanning probe microscope (SPM) | | | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning probe microscopy (SPM) | | | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| lateral force microscope | | | Peranti yang menghasilkan imej suatu permukaan dengan menggerakkan hujung jarum kantilever secara mendatar dan bersentuhan sepanjang permukaan sampel. Imej permukaan diperoleh daripada kilasan kantilever yang berubah terhadap daya geseran permukaan. Mikroskop ini sangat peka terhadap bahan yang terdiri daripada fasa yang berbeza. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| atomic force microscope (AFM) | | | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan dengan mengimbas kontur permukaan secara mekanikal iaitu dengan mengesan daya permukaan menggunakan kantilever (julur tuas) pesongan tip tajam. |
| scanning tunneling microscope (STM)] | | | Mikroskop yang mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu penduga tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara penduga dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata penduga ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara penduga dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik penduga semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbas penduga (SPM). Banding mikroskop daya atom. |
| scanning tunneling microscope (STM) | | | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu kuar tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara kuar dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata kuar ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara kuar dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik kuar semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbasan kuar (SPM). |
| ion milling | | | Proses menyingkirkan lapisan permukaan bahan bagi mendedahkan permukaan asal bahan untuk pencirian imej beresolusi tinggi seperti pencirian menggunakan TEM. |
| adatom | | | Atom yang terjerap pada suatu permukaan dan dapat bergerak di sepanjang permukaan tersebut. Dalam pembentukan filem tipis, adatom bergerak dan bergabung dengan adatom lain pada permukaan substrat serta saling menyusun sehingga terbentuk lapisan filem. |
| scanning force spectroscope (SFS) | | | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel melalui pengimbasan kontur permukaan. Proses pengimejan berlaku, apabila pesongan hujung yang tajam pada tip, menderia daya permukaan yang dipasang pada kantilever (julur tuas) dipantau |
| scanning probe lithography | | | Kaedah litografi bagi menghasilkan corak bersaiz nanometer pada permukaan suatu bahan terutamanya bahan semikonduktor dengan menggunakan mikroskop penerowongan imbasan (STM) atau mikroskop daya atom (AFM). Corak ini dihasilkan apabila penduga yang bermata tajam mengimbas permukaan dengan menggores permukaan, melakukan pemanasan setempat atau melukis menggunakan dakwat bahan kimia tertentu. Kaedah ini diperlukan bagi menghasikan corak bersaiz di bawah skala 100 nm, yang tidak dapat dihasilkan oleh kaedah litografi optik atau kaedah yang lain. |
|
| Tesaurus |
|---|
| | | muka (kata nama) | 1. Bersinonim dengan wajah: rupa, paras, roman, raut, bentuk, potongan, iras, domol, tampang,
2. Bersinonim dengan depan: hadapan, hadap, anterior,
Berantonim dengan belakang
| | Kata Terbitan : mengemukakan, terkemuka, bersemuka, menyemukakan, bermuka-muka, permukaan, pengemukaan, pemuka, |
|
|