| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| atomic force microscope (AFM) | | | Peranti yang menggunakan penduga yang dipasang pada spring untuk menghasilkan imej individu atom pada permukaan suatu bahan. Dalam reka bentuk konvensional, penduga merentasi permukaan bahan sambil bergerak turun dan naik kerana tarikan daya atom, pergerakan turun-naik tersebut dirakam dengan bantuan satu alur laser yang memantulkan cahaya dari kepala penduga. Pola cahaya pantulan membentuk imej permukaan. Imej yang diperoleh adalah 1000 kali ganda lebih besar daripada imej yang dihasilkan oleh mikroskop optik. AFM digunakan untuk menganalisis dan memproses bahan bagi pelbagai kegunaan termasuk elektronik, telekomunikasi, biologi dan industri teknologi tinggi yang lain. Penggunaan mikroskop ini telah diperluas daripada sistem yang asal termasuk mendapat imej sifat magnet bahan dan dapat digunakan pada bahan bukan konduktor. Banding mikroskop penerowongan imbasan. |
|
|