| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| van der Waals force microscopy | | | Kaedah pengukuran daya yang bergantung pada daya van der Waals bertindak di antara atom bukan polar dan molekul. Dalam mod sentuhan kekuatan daya van der Waals menetapkan resolusi imej. Kaedah ini penting dalam semua proses berkaitan dengan jeleketan, rekatan, geseran atau pemeluwapan. |
| coercive force | | | Keadaan daya medan magnet yang diperlukan untuk menghilangkan sisa pemagnetan bahan feromagnet kepada sifar selepas bahan itu dimagnetkan ke tahap tepu. Bahan yang memerlukan daya paksa yang besar disebut sebagai magnet kekal dan terdapat pada nanohablur magnet. Daya paksa dapat digambarkan dalam lengkung histeresis dan diukur dalam unit oersted atau ampere/meter. |
| magnetic force microscopy (MFM) | | | Penggunaan mikroskop daya magnet untuk mencerap fasa magnet suatu sampel dengan cara mengimbas suatu penduga pada permukaan sampel. Alat yang biasa digunakan ialah mikroskop daya atom yang menggunakan suatu penduga khas yang peka kepada medan magnet. Mikroskop daya magnet dapat mengukur resolusi sehingga 10 nm. Contoh penggunaan alat ini adalah untuk mengkaji fasa magnet pada pita video dan jalur magnet bagi kad kredit atau kad bank. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| atomic force | | | Daya tindak balas antara atom termasuk daya tarikan atau tolakan yang bertindak antara atom dan juga atom-atom yang berdekatan. |
| local force spectroscopy (LFS) | | | Salah satu kaedah dalam mikroskop daya atom (AFM) yang digunakan untuk menentukan keluk daya tindakan di kawasan tertentu pada permukaan sampel. |
| friction force microscope | | | Peranti yang digunakan untuk mengukur daya geseran pada skala nano. Alur laser dan pengesan fotodiod digunakan untuk menentukan pesongan tip semasa penduga mengimbas permukaan. Geseran diukur dengan mendapatkan garis imbasan pada pelbagai beban tolakan yang diketahui. Penduga silikon pada pelbagai pemalar daya dan jejari tip menyamai nilai antara 150 nm - 200 nm digunakan untuk mengenakan beban normal dalam julat imbasan 5 nm - 700 nm. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| lateral force microscope | | | Peranti yang menghasilkan imej suatu permukaan dengan menggerakkan hujung jarum kantilever secara mendatar dan bersentuhan sepanjang permukaan sampel. Imej permukaan diperoleh daripada kilasan kantilever yang berubah terhadap daya geseran permukaan. Mikroskop ini sangat peka terhadap bahan yang terdiri daripada fasa yang berbeza. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| conductive atomic force microscopy | | | Kaedah yang digunakan pada mikroskop daya atom (AFM) berfungsi untuk mengukur topografi dan arus elektrik pada sampel. |
| piezoresponse force microscopy (PFM) | | | Kaedah pengimejan bahan piezoelektrik/ferroelektrik yang menggunakan alat jenis mikroskop daya atom (AFM). |
| electrostatic force microscopy (EFM) | | | Kaedah yang digunakan untuk mengukur sifat elektrik permukaan sampel tanpa sentuh dengan mengukur daya elektrostatik yang terbentuk di antara permukaan sampel dan kantilever (julur tuas). |