| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| actuator | | | Peranti yang berperanan menghasilkan tindakan mekanik seperti membuka, menutup, melaras atau menggerakkan apabila menerima isyarat daripada suatu sensor yang dihubungkan kepada peranti tersebut. Contohnya, sistem mekanik yang menggerakkan pemacu cakera padat atau suatu lengan robot. |
| nanoswitch | | | Suis bersaiz molekul yang mampu melaksanakan tindakan buka dan tutup sistem elektronik pada skala pikosaat. Contoh proses nanosuis ialah kesan penerowongan, fotokimia, perubahan bentuk, dan kesan pemagnetan. |
| Volmer-Weber growth (VW) | | | Satu pertumbuhan filem tipis di atas substrat dengan cara beberapa lapisan permulaan tumbuh sebagai pulau yang berpusat pada tapak penukleusan. Pulau ini akan membesar sehingga menyentuh antara satu sama lain. Pertumbuhan Volmer-Weber berlaku apabila saling tindakan antara atom jerap lebih kuat berbanding saling tindakan atom jerap dengan permukaan substrat. Filem tipis yang dihasilkan melalui pertumbuhan Volmer-Weber adalah kasar. Pertumbuhan Volmer-Weber digunakan untuk memfabrikasi bintik kuantum. Sinonim pertumbuhan VW. |
| local force spectroscopy (LFS) | | | Salah satu kaedah dalam mikroskop daya atom (AFM) yang digunakan untuk menentukan keluk daya tindakan di kawasan tertentu pada permukaan sampel. |
| scanning probe instrument | | | Peranti yang menggunakan penduga halus untuk mengimej sifat fizik suatu permukaan seperti topografi, sifat elektrik, magnet dan terma, secara mengimbas permukaan sampel baris demi baris. Sifat fizik tersebut ditentukan hasil saling tindakan penduga dan bahan. Alat ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer dan dapat digunakan juga untuk melakukan litografi, memindahkan dan menyusun nanozarah dan nanotiub. Contoh alat ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Lihat juga mikroskopi penduga imbasan, litografi penduga imbasan. |
| scanning probe microscope (SPM) | | | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning probe microscopy (SPM) | | | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |