| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| photoelectron-emission microscope (PhEEM) | | | Sejenis mikroskop elektron yang menggunakan pancaran elektron untuk menghasilkan imej yang beza jelas. Pancaran elektron biasanya dihasilkan oleh sinar UV (ultraungu), sinar sinkroton, atau sinar-X. |
| X-ray lithography | | | Litografi untuk membuat peranti semikonduktor atau bahan berstruktur yang amat kecil dalam saiz 10(2) nm dengan cara menyinarkan sinar-X ke atas topeng yang berada di atas wafer bersalut fotorintang. Jarak gelombang sinar-X ialah 0.8 nm atau kurang. Topeng diperbuat daripada bahan penyerap sinar-X seperti emas, sebatian tantalum atau tungsten. Contoh bahan berstruktur nano yang dibuat menggunakan litografi sinar-X ialah hablur fotonik. |
| energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) | | | Kaedah analitikal yang digunakan bersama mikroskop pengimbasan elektron (SEM) untuk menganalisis komposisi unsur atau pencirian sifat kimia sampel. Ia mengesan sinar-X yang dipancarkan dari sampel semasa pembedilan oleh sinar elektron dari SEM bagi tujuan pencirian komposisi unsur atau pencirian sifat kimia yang terdapat pada sampel. Sinonim ). spektroskopi sinar- X sebaran tenaga (EDX). |
| energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX) | | | Lihat spektroskopi sinar-X tenaga sebaran (EDS). |
| wavelength dispersive X-ray spectroscopy (WDXS) | | | Kaedah untuk mengukur keamatan sinar-X pada panjang gelombang tertentu yang dibelaukan oleh bahan hablur. Sinonim spektroskopi sebaran panjang gelombang (WDS). |
| scattering length | | | Jarak garis serenjang dari pusat atom atau nukleus sasaran ke garis alur zarah atau nukleus tuju terdekat yang dapat dicapai dalam penyerakan. Jarak ini digunakan untuk menganalisis serakan suatu zarah atau nukleus tuju oleh atom atau nukleus tertentu. Panjang penyerakan ini juga dapat ditentukan bersamaan dengan jejari sfera yang berpusat pada nuklues atom sasaran yang tidak dapat ditembusi oleh zarah atau nukleus tuju. Contoh zarah tuju ialah elektron dan neutron, manakala contoh sinaran tuju ialah sinar-X, sinar gama dan sinar cahaya laser. |
| Fraunhofer diffraction | | | Sejenis pembelauan yang berlaku apabila nombor Fresnel kurang daripada satu. Nombor Fresnel ialah parameter yang menentukan kawasan kesan pembelauan. Perbezaan antara belauan Fraunhofer dan Bragg seperti dalam rajah. Sudut sinar jatuhan Fraunhofer selari dengan kedudukan sampel, manakala belauan Bragg sudut sinar jatuhan tidak selari. |
| wide-angle X-ray diffraction (WXRD) | | | Kaedah untuk pencirian struktur, saiz dan orientasi bahan hablur. |
| cathodoluminescence | | | Fenomena pemancaran cahaya, kesan hentaman alur elektron dalam tiub sinar katod ke atas bahan pendarcahaya seperti zink sulfida pada layar televisyen. Fenomena ini juga digunakan dalam mikroskopi elektron imbasan untuk mengkaji nanostruktur bahan. |
| wavelength dispersive spectroscopy (WDS) | | | Lihat spektroskopi sebaran panjang gelombang sinar-X (WDXS). |