| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| photonic crystal | | | Hablur yang terdiri daripada susunan bahan secara berkala yang direka bentuk supaya memberikan kesan kepada pergerakan foton (gelombang elektromagnet) sama seperti pergerakan elektron dalam hablur semikonduktor. Susunan tersebut terdiri daripada lapisan filem tipis berpemalar dielektrik tinggi berselang dengan lapisan filem tipis berpemalar dielektrik rendah. Pergerakan foton dalam hablur ini sama dengan pergerakan elektron dalam jalur tenaga semikonduktor. Hablur fotonik terdapat secara tabii atau buatan. Contoh hablur fotonik semula jadi ialah batu permata opal. Hablur fotonik dihasilkan melalui teknik litografi atau teknik lain sama seperti penyediaan litar bersepadu bahan semikonduktor. Hablur fotonik digunakan dalam sistem komunikasi. |
| electroosmosis | | | Pergerakan cecair berkutub menerusi membran atau struktur nanoliang di bawah pengaruh medan elektrik. Contohnya, dalam sel bahan api, elektroosmosis menyebabkan proton bergerak menerusi membran pertukaran proton untuk membawa molekul air daripada anod ke katod. |
| nanopositioning | | | Proses yang melibatkan pergerakan dan penempatan sesuatu objek dengan kejituan nanometer. Proses ini biasanya digunakan untuk pemasangan komponen gentian optik. Kaedah yang digunakan untuk proses ini menggunakan kesan piezoelektrik yang dikawal oleh voltan elektrik. |
| molecular motor | | | Nanomesin biologi yang sangat penting untuk pergerakan dalam organisma hidup. Kebanyakan motor molekular berasaskan protein dan menukar tenaga kimia dalam ATP kepada tenaga mekanik. |
| quantum confinement | | | Pengurungan elektron atau lohong dalam semikonduktor berupa sekatan pergerakan dalam satu atau lebih dimensi. Pengurungan kuantum ini dapat berlaku apabila satu atau lebih dimensi hablur dikecilkan sehingga menghampiri saiz jejari Bohr, iaitu 10 nm - 100 nm. Contohnya, bintik kuantum dikurung dalam tiga dimensi, wayar kuantum dalam dua dimensi dan perigi kuantum dalam satu dimensi. |
| ferromagnet | | | Sifat elektrik besi, nikel atau kobalt dalam keadaan tiada medan magnet, pergerakan cas elektrik dihasilkan melalui pemindahan ionik dengan cara tarikan atau biasan. |
| Hall-Petch equation | | | Persamaan yang mengaitkan kekuatan ?y dengan saiz butiran d dan diungkap sebagai: ? y = ?0 + kyd-(1/2) dengan ?0 ialah tegasan geseran yang menentang pergerakan kehelan dan ky ialah pemalar. Contohnya, bahan pukal yang terdiri daripada butiran bersaiz 50 nm mempunyai kekuatan alah 4.14 GPa. Peningkatan nilai kekuatan alah ini adalah disebabkan pertambahan sempadan butiran yang menghalang pergerakan kehelan. |
| scanning probe microscope (SPM) | | | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning probe microscopy (SPM) | | | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| atomic force microscope (AFM) | | | Peranti yang menggunakan penduga yang dipasang pada spring untuk menghasilkan imej individu atom pada permukaan suatu bahan. Dalam reka bentuk konvensional, penduga merentasi permukaan bahan sambil bergerak turun dan naik kerana tarikan daya atom, pergerakan turun-naik tersebut dirakam dengan bantuan satu alur laser yang memantulkan cahaya dari kepala penduga. Pola cahaya pantulan membentuk imej permukaan. Imej yang diperoleh adalah 1000 kali ganda lebih besar daripada imej yang dihasilkan oleh mikroskop optik. AFM digunakan untuk menganalisis dan memproses bahan bagi pelbagai kegunaan termasuk elektronik, telekomunikasi, biologi dan industri teknologi tinggi yang lain. Penggunaan mikroskop ini telah diperluas daripada sistem yang asal termasuk mendapat imej sifat magnet bahan dan dapat digunakan pada bahan bukan konduktor. Banding mikroskop penerowongan imbasan. |