| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| nanosphere lift-off lithography | | | Kaedah litografi yang menggunakan sfera kecil berskala nano bagi membentuk corak atas permukaan. Sfera ini bertindak sebagai topeng untuk menghalang keluasan tertentu pada permukaan daripada menerima pendepositan bahan nano daripada fasa wap. |
| atomic force microscope (AFM) | | | Peranti yang menggunakan penduga yang dipasang pada spring untuk menghasilkan imej individu atom pada permukaan suatu bahan. Dalam reka bentuk konvensional, penduga merentasi permukaan bahan sambil bergerak turun dan naik kerana tarikan daya atom, pergerakan turun-naik tersebut dirakam dengan bantuan satu alur laser yang memantulkan cahaya dari kepala penduga. Pola cahaya pantulan membentuk imej permukaan. Imej yang diperoleh adalah 1000 kali ganda lebih besar daripada imej yang dihasilkan oleh mikroskop optik. AFM digunakan untuk menganalisis dan memproses bahan bagi pelbagai kegunaan termasuk elektronik, telekomunikasi, biologi dan industri teknologi tinggi yang lain. Penggunaan mikroskop ini telah diperluas daripada sistem yang asal termasuk mendapat imej sifat magnet bahan dan dapat digunakan pada bahan bukan konduktor. Banding mikroskop penerowongan imbasan. |
| Brownian motion | | | Gerakan rawak zarah halus terampai dalam bendalir, hasil pelanggaran dengan molekul bendalir yang bergerak turun naik. Zarah terampai disebabkan daya tolakan elektrostatik antara zarah tersebut. Saiz zarah ini ialah 1 nm - 1000 nm dan dapat dikesan melalui serakan cahaya. Contohnya, penyerapan bahan cemar dalam atmosfera dan penyerapan lohong dalam bahan semikonduktor. |
| shot noise | | | Hingar elektronik atau fotonik yang dihasilkan oleh perubahan rawak sebilangan zarah yang membawa tenaga. Hingar tembak juga terjadi dalam sistem optik disebabkan oleh turun naik foton. Hingar tembak menimbulkan masalah dalam sistem apabila arus elektrik adalah kecil atau keamatan cahaya yang rendah. |
| scanning tunneling microscope (STM) | | | Alat yang digunakan untuk mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu kuar tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara kuar dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata kuar ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara kuar dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik kuar semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbasan kuar (SPM). |
| scanning tunneling microscope (STM)] | | | Mikroskop yang mengimej permukaan sampel menggunakan prinsip mekanik kuantum. Satu penduga tajam digerakkan sepanjang permukaan sampel dan voltan elektrik dibekalkan antara penduga dengan permukaan. Bersandar kepada voltan ini, elektron akan menerowong (kesan kuantum mekanik) atau meloncat dari mata penduga ke permukaan menghasilkan suatu arus elektrik lemah. Saiz arus ini berkadaran dengan jarak antara penduga dengan permukaan. Dengan mengatur supaya arus sentiasa tetap, pergerakan turun-naik penduga semasa mengimbas dirakam dan diolah untuk menghasilkan imej topografi permukaan tersebut. Imej yang dapat dirakam adalah sekecil 0.2 nm. Mikroskop ini hanya dapat digunakan ke atas bahan yang mengkonduksi arus elektrik seperti logam, bahan semikonduktor dan polimer pengkonduksian. STM termasuk dalam kategori mikroskop pengimbas penduga (SPM). Banding mikroskop daya atom. |