| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| Bragg equation | | | Persamaan yang digunakan untuk menentukan kedudukan satah dalam belauan sinar-X: n? = 2d sin?, dengan n = tertib, ? = panjang gelombang, d = jarak kekisi; dan ? = sudut belauan. |
| pharmacology cell | | | Sel berasaskan nanomesin untuk menghantar ubat ke kedudukan tertentu di dalam badan. Nanomesin adalah peranti elektromekanik yang berdimensi nanometer. |
| cantilever tip | | | Satu tip pada hujung kantilever dalam alat mikroskop daya atom (AFM) atau mikroskop penerowongan imbasan (STM) digunakan untuk mengesan kedudukan atau saiz atom atau ciri-ciri lain pada sampel. Tip ini berbentuk tirus dan biasanya disadur dengan emas atau intan supaya lebih keras. |
| Frenkel defect | | | Keadaan cacat dalam hablur yang terdiri daripada kekosongan dan interstis apabila atom atau ion meninggalkan subkekisi dan menghuni pada kedudukan interstis. Contohnya, gambar rajah skematik dua dimensi pada struktur kekisi natrium klorida, ion Na meninggalkan subkekisi dan membentuk interstis. |
| pixel | | | Unsur terkecil dalam imej berdigit suatu sistem paparan elektronik. Piksel biasanya disusun dalam grid berdimensi-2 dalam bentuk bintik, segi empat sama atau segi empat tepat. Kedudukan piksel adalah terlalu rapat sehingga kelihatan seperti bersambung. Keamatan setiap piksel adalah berbeza. Dalam sistem berwarna, setiap piksel mempunyai tiga atau empat komponen cahaya, seperti merah, hijau dan biru, atau sian, magenta, kuning, dan hitam. Setiap piksel diwakili oleh beberapa bilangan bit yang menentukan kualiti imej dan warna yang dipaparkan oleh suatu sistem paparan elektronik. |
| Keggin ion | | | Ion yang formulanya [Al13O4(OH)24(H2O)12]7+ dengan atom aluminium membentuk struktur terapat-padat. Dalam ion ini, atom aluminium yang terletak pada kedudukan pusat ialah terkoordinat tetrahedron, manakala 12 atom aluminium di sekelilingnya terkoordinat oktahedron. Kewujudan ion ini dapat dikesan dengan tepat menggunakan kaedah resonans magnet nukleus (NMR) Al27. Ion ini digunakan untuk mengisi ruang dalam lapisan bahan tak organik. |
| dielectric | | | Penebat elektrik yang boleh terkutub apabila dikenakan medan elektrik. Apabila bahan dielektrik diletakkan dalam medan elektrik, cas elektrik tidak mengalir melalui bahan tesebut tetapi hanya teranjak sedikit daripada kedudukan keseimbangan purata menyebabkan pengutuban dielektrik. |
| Fraunhofer diffraction | | | Sejenis pembelauan yang berlaku apabila nombor Fresnel kurang daripada satu. Nombor Fresnel ialah parameter yang menentukan kawasan kesan pembelauan. Perbezaan antara belauan Fraunhofer dan Bragg seperti dalam rajah. Sudut sinar jatuhan Fraunhofer selari dengan kedudukan sampel, manakala belauan Bragg sudut sinar jatuhan tidak selari. |
| scanning probe microscope (SPM) | | | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning probe microscopy (SPM) | | | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |