| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| lateral force microscope | | | Peranti yang menghasilkan imej suatu permukaan dengan menggerakkan hujung jarum kantilever secara mendatar dan bersentuhan sepanjang permukaan sampel. Imej permukaan diperoleh daripada kilasan kantilever yang berubah terhadap daya geseran permukaan. Mikroskop ini sangat peka terhadap bahan yang terdiri daripada fasa yang berbeza. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
|
| Tesaurus |
|---|
| | Tiada maklumat tesaurus untuk kata jarum |
|
| Puisi |
|---|
|
Jarum panjang kerat nangka,
Betik masak tepi penanggah;
Jangan tuan syak wasangka,
Keris pendek seorang sebilah.
Lihat selanjutnya... |
|