| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| image rotation prism | | | Sistem dalam alat yang digunakan untuk memutarkan, membalikkan, atau mengembalikan imej kepada imej asal. Prisma putaran imej digunakan dalam mikroskop dan teleskop. |
| scanning probe microscope (SPM) | | | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| atomic force microscope (AFM) | | | Peranti yang menggunakan penduga yang dipasang pada spring untuk menghasilkan imej individu atom pada permukaan suatu bahan. Dalam reka bentuk konvensional, penduga merentasi permukaan bahan sambil bergerak turun dan naik kerana tarikan daya atom, pergerakan turun-naik tersebut dirakam dengan bantuan satu alur laser yang memantulkan cahaya dari kepala penduga. Pola cahaya pantulan membentuk imej permukaan. Imej yang diperoleh adalah 1000 kali ganda lebih besar daripada imej yang dihasilkan oleh mikroskop optik. AFM digunakan untuk menganalisis dan memproses bahan bagi pelbagai kegunaan termasuk elektronik, telekomunikasi, biologi dan industri teknologi tinggi yang lain. Penggunaan mikroskop ini telah diperluas daripada sistem yang asal termasuk mendapat imej sifat magnet bahan dan dapat digunakan pada bahan bukan konduktor. Banding mikroskop penerowongan imbasan. |
| electron micrograph | | | Imej sesuatu objek yang dihasilkan menggunakan mikroskop elektron. Imej tersebut diambil sama seperti konsep penghasilan fotograf oleh mikroskop biasa tetapi pembesarannya adalah 10 - 10(5) kali ganda. |
| anaglyph generator | | | Peranti yang menghasilkan gambar anaglif, iaitu imej tiga dimensi (3D) menerusi pengkomputeran canggaan trigonometri ke atas imej yang dipamerkan dalam warna tertentu. Gambar 3D ini penting bagi memudahkan analisis data dan membezakan ketinggian puncak titik berdekatan. |
| lateral force microscope | | | Peranti yang menghasilkan imej suatu permukaan dengan menggerakkan hujung jarum kantilever secara mendatar dan bersentuhan sepanjang permukaan sampel. Imej permukaan diperoleh daripada kilasan kantilever yang berubah terhadap daya geseran permukaan. Mikroskop ini sangat peka terhadap bahan yang terdiri daripada fasa yang berbeza. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
| scanning probe microscopy (SPM) | | | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| pixel | | | Unsur terkecil dalam imej berdigit suatu sistem paparan elektronik. Piksel biasanya disusun dalam grid berdimensi-2 dalam bentuk bintik, segi empat sama atau segi empat tepat. Kedudukan piksel adalah terlalu rapat sehingga kelihatan seperti bersambung. Keamatan setiap piksel adalah berbeza. Dalam sistem berwarna, setiap piksel mempunyai tiga atau empat komponen cahaya, seperti merah, hijau dan biru, atau sian, magenta, kuning, dan hitam. Setiap piksel diwakili oleh beberapa bilangan bit yang menentukan kualiti imej dan warna yang dipaparkan oleh suatu sistem paparan elektronik. |
| electron microscopy | | | Kaedah yang digunakan untuk mendapatkan imej sampel beresolusi tinggi melalui mikroskop elektron bagi mengkaji struktur permukaan bahan. |
| scanning electron microscope (SEM) | | | Alat pengimejan untuk menghasilkan imej sampel dengan mengimbas permukaan menggunakan alur elektron yang terfokus, menghasilkan pelbagai isyarat yang mengandungi maklumat topografi permukaan, saiz dan bentuk sampel |