| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| Frank-van der Merwe (FM) growth | | | Pertumbuhan lapisan epitaksi ultratipis secara satu demi satu bagi menghasilkan peranti elektronik atau optoelektronik bahan semikonduktor berkualiti tinggi dengan menggunakan epitaksi alur molekul (MBE). Lapisan yang dibentuk mempunyai antara muka yang jitu dan berkeupayaan mengawal ketebalan sehingga ke paras monolapisan. |
| Stranski-Krastanov growth | | | Satu daripada ragam pertumbuhan filem tipis secara epitaksi pada permukaan hablur yang proses pertumbuhannya melibatkan dua langkah, iaitu pemendapan filem tipis lapis demi lapis sehingga mencapai ketebalan genting diikuti dengan pertumbuhan pulau disebabkan oleh ketakpadanan kekisi. Ketebalan genting bergantung pada sifat fizik dan kimia substrat dan bahan filem, seperti tenaga permukaan dan parameter kekisi. Pertumbuhan Stranski-Krastanov digunakan untuk memfabrikasi bintik kuantum. Sinonim pertumbuhan SK. Lihat juga pertumbuhan Volmer-Weber (VW), pertumbuhan Frank-van der Merwe (FM). |
| scanning probe instrument | | | Peranti yang menggunakan penduga halus untuk mengimej sifat fizik suatu permukaan seperti topografi, sifat elektrik, magnet dan terma, secara mengimbas permukaan sampel baris demi baris. Sifat fizik tersebut ditentukan hasil saling tindakan penduga dan bahan. Alat ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer dan dapat digunakan juga untuk melakukan litografi, memindahkan dan menyusun nanozarah dan nanotiub. Contoh alat ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Lihat juga mikroskopi penduga imbasan, litografi penduga imbasan. |
| scanning probe microscope (SPM) | | | Alat yang digunakan untuk mengimbas permukaan bahan menggunakan kuar (prob) bagi mendapatkan imej permukaan bahan. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik kuar atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan kuar-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |
| scanning probe microscopy (SPM) | | | Kajian terhadap suatu bahan menggunakan mikroskop yang dapat menghasilkan imej permukaan bahan menerusi alat penduga yang mengimbas permukaan bahan tersebut. Imej permukaan diperoleh menerusi pergerakan mekanik penduga atas permukaan bahan secara baris demi baris, sambil merakamkan saling tindakan penduga-permukaan sebagai fungsi kedudukan. Contoh mikroskop jenis ini ialah mikroskop penerowongan imbasan (STM) dan mikroskop daya atom (AFM). Kedua-dua mikroskop ini dapat mengimej butiran zarah bersaiz nanometer. |