| PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
| Vickers indenter | | | Jenis pelekuk yang digunakan untuk membuat lekukan berbentuk Vickers pada permukaan bahan uji. Biasanya beban sampel dalam keadaan ringan berukuran 10 gram (g) hingga 1 kilogram daya (kgf). |
| friction force microscope | | | Peranti yang digunakan untuk mengukur daya geseran pada skala nano. Alur laser dan pengesan fotodiod digunakan untuk menentukan pesongan tip semasa penduga mengimbas permukaan. Geseran diukur dengan mendapatkan garis imbasan pada pelbagai beban tolakan yang diketahui. Penduga silikon pada pelbagai pemalar daya dan jejari tip menyamai nilai antara 150 nm - 200 nm digunakan untuk mengenakan beban normal dalam julat imbasan 5 nm - 700 nm. Lihat juga mikroskop daya atom (AFM). |
|
| Tesaurus |
|---|
| | Tiada maklumat tesaurus untuk kata beban |
|
|