PERKATAAN |
PADANAN |
BIDANG |
HURAIAN |
photoluminescence spectroscopy (PLS) | | | Kaedah tanpa sentuh pemproban struktur elektronik bahan apabila cahaya dikenakan terhadap sampel dan cahaya tersebut terserap, seterusnya memberi lebihan tenaga kepada sampel untuk proses pengujaan foton. |
electrostatic force microscopy (EFM) | | | Kaedah yang digunakan untuk mengukur sifat elektrik permukaan sampel tanpa sentuh dengan mengukur daya elektrostatik yang terbentuk di antara permukaan sampel dan kantilever (julur tuas). |
|
Tesaurus |
---|
| Tiada maklumat tesaurus untuk kata sentuh. |
|
|